麦克高性能多通道全自动比表面与孔隙分析仪  TriStar® II 3020系列

TriStar II和TriStar IIPLUS

TriStar II 3020为全自动三站式比表面积和孔隙度分析仪，性价比高。它在保证数据精度和强大的数据处理能力同时，大大加快了分析速度，可满足大多数研究需求。TriStar II 也同时提供氪气选配，可进行低比表面测量。该仪器还提供多种分析方法和数据处理，用户可根据需要选择不同的计算数据。

比表面积和孔隙度是影响材料质量和用途的两个重要物理性质，因此准确测量以及控制这些参数非常重要。此外，这两个性质对材料研究也非常重要，它是了解天然材料形成、结构、潜在应用的非常关键参数。

TriStar II 系列产品应用应用笔记、文献和参考书目ASTM方法

体积小/众多特点

•三个分析站同时运行，但又相互独立。 三站BET比表面积的测量可以在20分钟内完成。对于更多的样品测试，四个TriStar可用一台计算机控制。

•氮气测试比表面积低可达0.01m2/g。TriStar II也可使用于氩气、二氧化碳和非腐蚀性气体如丁烷、甲烷或其他轻烃类。氪气选配可测量低至0.001m2/g的比表面积。

•标配的P0管可连续测量饱和压力。饱和压力可选择输入、连续测量或在样品管中测量等方式获得。

•大进气增量功能和定进气量功能，可在缩短分析时间的同时，避免“错过”重要数据点。

•自由空间可选择测量、计算或手动输入等方式，灵活性大，满足不同样品的不同需求。

•增强的产品功能包括：视频剪辑、计算机和TriStar之间的以太网通信、内置电路测试和诊断的软件、能够通过互联网进行远程诊断、可兼容旧型号TriStar及 Gemini的I数据。

•2.75升，（可选配4L）大容量杜瓦瓶和超长样品管，保证长时间分析测量。

•可测量多达1000个数据点的等温线，可分析得到足够多的材料结构信息。

•基于Windows的控制软件，具有强大的数据处理功能、SPC报告、等温吸附热等。

•可选不同的样品制备站，流动/真空加热等多种方式选择。

•设计精美，体积小，使用方便